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    品名 PHYNIX Surfix®E-FN 两用统计型膜厚仪 PHYNIX Surfix SX-FN1.5 涂层测厚仪
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    模型对比
    测量原理 磁感应 电涡流 磁感应+电涡流
    基底 磁性金属 非磁性金属 磁性金属 非磁性金属
    量程 0~1500μm 0~1500μm
    误差 ±1% ±2%
    探头样式 带线探头 带线探头
    应用场景 通用 通用
    配件
    参数对比
    测量原理 磁感应+电涡流 磁感应和电涡流
    测量范围 0~1500μm 0-1500μm
    精度 ± (1µm+1%测量值)
    分辨率 0.1μm或<0.2%测量值 0.1μm
    显示屏 背光,4位字母数字,高度10mm(0.4英寸) 高分辨率彩色显示屏
    校准模式 出厂校准,零点校准,薄膜校准,漂移功能:正负一个常数值 工厂零校准
    统计功能 测量次数、平均值、标准偏差、最小值、最大值 测量值数量,平均值,标准偏差,最小和最大测量值
    数据存储 2*100个测量值 最高2000读数
    数据接口 红外/电线 USB 2.0
    工作温度 0℃~60℃
    表面温度 -15℃~60℃ –15℃至+60℃(标准);–15℃至+150℃或300℃(带有可选的高温脚)
    主机尺寸 137*66*23mm
    探头规格尺寸 ∅14*83mm
    重量 205g,含探头和电池
    防护等级 IP 52(防尘和滴水) IP 52(防尘和防滴水)
    符合标准 DIN, ISO, ASTM, BS