产品概述
Surfix® E-F是一款铁基统计型膜厚仪，属于Surfix® E Family系列。该仪器搭配F1.5外置固定探头，专用于测量磁性金属（如铁、钢）底材上的非磁性涂层厚度，测量范围覆盖1至1500微米。其测量精度为±(1μm+1%测量值)，分辨率可达0.1微米，并配备红外接口用于便捷数据传输，主机防护等级为IP52。
产品特色
1. 专为铁基材料设计，测量磁性金属底材上的非磁性涂层厚度。
2. 测量范围宽，可达0~1500μm。
3. 测量精度高，为±(1µm+1%测量值)，分辨率达0.1μm。
4. 具备统计功能，可计算测量次数、平均值、标准偏差、最小值、最大值。
5. 配备红外接口，便于数据无线传输。
6. 主机防护等级为IP52，具备一定的防尘和防滴水能力。
7. 数据存储容量为2组，每组可存储100个测量值。
8. 支持多种校准方式：出厂校准、零点校准、薄膜校准。
工作原理
该膜厚仪采用磁感应原理进行测量。当探头靠近铁磁性基体时，探头与基体之间形成闭合磁路。当探头与基体之间存在非磁性涂层时，磁路会发生变化，仪器通过检测这种磁通量的变化量，经过内部计算，即可得出涂层的厚度值。
应用领域
电镀、油漆、汽车工业、化学工业、航空航天、造船业、轮胎制造业
操作步骤
1. 开机并检查电池电量。
2. 根据测量需求，选择合适的校准方式（如零点校准或薄膜校准）进行校准。
3. 确保被测基体表面清洁、平整，且测量区域满足最小要求（5×5mm）。
4. 将探头垂直、平稳地放置于待测涂层表面。
5. 按下测量键，待读数稳定后记录或存储测量值。
6. 可进行多次测量，仪器会自动进行统计计算。
7. 测量完成后，可通过红外接口将存储的数据传输至计算机或其他设备。
注意事项
* 测量前必须根据实际情况进行校准，以确保测量准确性。
* 被测基体必须为铁磁性金属（如铁、钢）。
* 测量时探头需垂直且稳定地接触被测表面。
* 被测区域应满足最小测量面积（5×5mm）要求。
* 测量曲面时，需注意最小曲率半径限制（凸面≥1.5mm，凹面≥5mm）。
* 基体厚度需大于或等于0.2mm。
* 仪器和探头的工作温度范围为0℃~60℃，探头接触温度范围为-15℃~60℃，请勿在超出范围的环境中使用。
* 注意仪器的防护等级为IP52，可防尘和防垂直方向滴水，但不具备防水或防高压水柱能力。
* 长期不使用时，请取出电池。
