产品概述
PHYNIX Surfix SX-F1.5涂层测厚仪是一款专业测量涂层厚度的设备,配备色彩鲜艳的图形显示屏,支持多语言操作(包括英语、德语、法语、意大利语、西班牙语、土耳其语、捷克语和中文)。该设备内置存储器可存储多达2,000个测量值,通过USB 2.0接口连接计算机,配套PHYNIX.connect数据传输程序可将测量值传输到Excel。Surfix SX型号可连接PHYNIX探头程序中的所有探头,提供最大灵活性;而Surfix EX型号配备固定标准探头,适用于明确定义的测量任务,更具成本效益。
产品特色
1. 高分辨率彩色图形显示
2. USB接口
3. 自动识别基础材料
4. 数据存储器可存储多达2,000个测量值
5. 在线统计功能
6. 直观的菜单指导
7. 可在高达150℃或300℃的高温表面进行测量(可选)
8. 制造商测试证书
9. 2年保修
10. 创新且用户友好的测量技术
工作原理
该涂层测厚仪采用磁感应测量原理,通过探头检测涂层厚度。设备自动识别基础材料,提供精确的厚度读数,分辨率达0.1μm。
应用领域
电镀行业、绘画行业、汽车行业、化学工业、航空工程、造船业、研究实验室和大学、车间、顾问和评估师
操作步骤
1. 通过USB 2.0接口连接计算机
2. 使用PHYNIX.connect程序传输测量值到Excel
3. 根据菜单指导进行操作
4. 自动识别基础材料后进行测量
注意事项
• 最小测量面为10x10mm
• 最小曲率半径:凸面5mm,凹面50mm
• 最薄基体:铁基0.5mm,非铁基0.05mm
• 工作温度:0℃至+50℃
• 防护等级:IP52
• 探头接触温度:标准–15℃~+60℃;可选高温脚–15℃~+150℃或300℃
• 最小净空高度:85mm
• 工件校准准确性:±3.0 µm或3%(以较大值为准)
• 箔校准准确性:±1μm或1%