产品概述
Surfix® easy X I-F 是一款易用内置探头铁基型膜厚仪，适用于日常操作及严苛的实验室测量。该仪器采用内置探头设计，基于磁感应原理，专门用于测量铁/钢基材上的涂层厚度，操作简单方便。
产品特色
1、免校准，开机即可测量；
2、背光显示，暗黑环境下也能轻松测量；
3、可在平坦、粗糙和曲面上进行精确和精准的测量；
4、大的接触面积，定位更方便；
5、在线统计（数量，平均数，标准差，最小值，最大值）；
6、制造商检测证书。
工作原理
该膜厚仪基于磁感应原理工作。当仪器的内置探头接触铁磁性基材（如钢、铁）上的非磁性涂层时，探头与基材之间的磁通量会因涂层厚度不同而变化。仪器通过测量这一磁通量的变化，经过内部计算，即可精确得出涂层的厚度值。
操作步骤
1、开机。
2、将仪器探头垂直置于待测涂层表面。
3、按下测量键进行测量。
4、读取显示屏上的测量结果。
5、可重复测量，仪器会自动进行统计。
注意事项
• 测量前请确保基材为铁磁性金属（如钢、铁）。
• 确保测量区域最小面积为10mm×10mm。
• 在凸面测量时，最小曲率半径为5mm；在凹面测量时，最小曲率半径为50mm。
• 基材最小厚度为0.5mm。
• 工作环境温度为0℃至60℃，探头接触的表面温度范围为-15℃至60℃。
• 仪器防护等级为IP52，可防灰尘和滴水，但请勿在严重潮湿或多尘环境中使用。
• 确保电池电量充足，以保证测量精度。
