产品概述
Surfix® easy X E-F是一款易用外置探头铁基型膜厚仪，适用于日常操作及严苛的实验室测量，简单方便。该型号采用外置探头和磁感应测量原理，专为铁/钢基材设计，测量范围可达0-3500μm。
产品特色
1、免校准，开机即可测量；
2、背光显示，暗黑环境下也能轻松测量；
3、可在平坦，粗糙和曲面上进行精确和精准的测量；
4、自动识别基材测量铁/钢和有色金属；
5、在线统计（数量，平均数，标准差，最小值，最大值）；
6、大的接触面积，定位更方便；
7、制造商检测证书。
工作原理
该仪器采用磁感应原理进行测量。当探头接触被测涂层表面时，仪器通过检测磁通量的变化来计算铁/钢基材上非磁性涂层的厚度。
操作步骤
1、开机；
2、将外置探头垂直置于待测涂层表面；
3、读取显示屏上的测量结果；
4、可进行多次测量，仪器自动提供统计值。
注意事项
• 确保测量表面温度在-15℃至60℃之间。
• 工作环境温度应在0℃至60℃范围内。
• 最小测量面积为10mm×10mm。
• 在铁/钢基材上测量时，最薄基体厚度需不小于0.5mm。
• 最小凸面曲率半径为5mm，最小凹面曲率半径为50mm。
• 仪器防护等级为IP52，防灰尘和滴水，但需避免在更严苛的环境中使用。
• 使用前请确认探头接触面清洁。
