产品概述
JX-2000A型颗粒图像分析仪是一款用于粉体粒度形貌分析的仪器，通过结合光学显微镜、USB摄像头和专用图像分析软件，实现对颗粒形貌的直观观察和精确测量。该系统由光学显微镜、USB摄像头、图像分析软件、电脑和打印机等组成，能够提供颗粒个数、面积、周长、直径、体积、长径比、短径比等分布数据及图像，并支持D10、D50、D90、D97、平均粒径、表面积等数据分布图表，测试结果可显示、保存和打印。
产品特色
1. 工业级摄像头高速采集颗粒，光学显微镜放大成像，图像快速显示于电脑，直接观察颗粒形貌。
2. 测量范围广，覆盖0.5μm至3000μm。
3. 接口方式为USB连接，操作简便。
4. 平场消色差物镜，最大分辨率0.07微米，最大光学放大倍数1600倍，打印最大倍数4000倍(A4幅面)。
5. 提供等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积、圆形度等分布数据，以及颗粒数、D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等粒度分布数据。
6. 配备30多种图像分析和处理功能，包括图像调整、网格标注等，提高分析分辨率，测试结果真实可靠。
7. 颗粒形貌图像可存盘和打印，支持多种格式测试报告输出，并可针对特殊粉体设计专用软件。
工作原理
样品经光学显微镜放大成像后，由USB摄像头摄得颗粒形貌图像并传输到电脑，用户可直接观察粉体颗粒形貌。通过专有图像分析软件进行计算分析，获取颗粒个数、面积、周长、直径、体积、长径比、短径比等分布数据及图像，同时生成D10、D50、D90、D97、平均粒径、表面积等数据分布图表。测试结果由电脑显示和保存，并可打印粒度分布数据及颗粒形貌图片。
应用领域
粉体材料：金刚石、碳化硅、硅灰石、石英粉、硫酸钡、石墨、钴酸锂、碳化硼、白刚玉、氧化铈云母粉、碳粉、金属粉等各种矿粉、用于验证其他粒度测试的手段和方法
操作步骤
1. 样品通过光学显微镜放大成像。
2. USB摄像头摄得颗粒形貌图像并传输到电脑。
3. 在电脑上直接观察粉体颗粒形貌。
4. 使用专有软件计算分析，获取颗粒分布数据及图像。
5. 电脑显示和保存测试结果，或打印粒度分布数据及颗粒形貌图片。
注意事项
• 仪器分JX-2000A型和JX-2000B型，技术原理和参数相同，但JX-2000A配置透射显微镜，JX-2000B配置透反射显微镜，后者适用于陶瓷、金属等不透光物体表面晶形观察分析。
• 软件运行环境为Windows XP或Windows 32位系统。
• 测量单位可选微米、毫米、厘米或英吋。
• 图像分析处理功能包括色调处理、图像矫正、图像增强和图像处理等，需根据实际需求调整参数以提高分析准确性。
