精新 JX-2000B 颗粒图像分析仪 粉体粒度形貌分析系统

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测试范围0.5~3000μm，最大放大倍数4000倍，可分析颗粒个数、面积、周长、直径、长径比等分布数据，支持多种格式测试报告输出。