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    PHYNIX Surfix easy I-F 易用内置探头铁基型膜厚仪 磁性测厚0-3500微米

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    采用一体式内置探头,测量范围0~3500微米,精度±2μm+2%,最小测量面直径10mm,适用于铁/钢基体,机身轻巧便携。

    分类 : 涂层测厚仪

    品牌 : PHYNIX

    编号 : NB001521