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    PHYNIX Surfix® easy E-F 易用外置探头铁基型膜厚仪 硬质合金探头V型槽

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    采用硬质合金探头,前端V型槽设计确保在水平、柱面或弯曲面上稳定垂直定位。测量范围0~3500µm,误差±2%,具备平均值、标准差等四种统计功能。

    分类 : 涂层测厚仪

    品牌 : PHYNIX

    编号 : NB001523