仪器商品分类

    品名 里博 leeb222(F1) 涂层测厚仪 PHYNIX Surfix SX-F1.5 涂层测厚仪
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    详情 详情
    模型对比
    测量原理 磁感应 磁感应
    基底 磁性金属 磁性金属
    量程 0~1500μm 0~1500μm
    误差 ±3% ±2%
    探头样式 带线探头 带线探头
    应用场景 通用 通用
    配件
    参数对比
    测量原理 磁感应 磁感应
    测量范围 0~1250μm 0~1500μm
    误差范围 ±3% ±1μm/2%
    分辨率 0.1μm 0.1μm
    最小测量面 Φ7mm 10x10mm
    最小曲率半径 凸 1.5mm;凹 9mm 凸面:5mm;凹面:50mm
    最薄基体 0.5mm 0.5mm(F);0.05mm(N)
    探头 F1分体探头 内置式
    图示功能
    电源 2*AAA碱性电池 2节AAA电池
    校准证书
    系统语言 中文
    显示屏 液晶显示屏 高分辨率彩色显示屏
    配套软件
    整机重量 165g 205g(含FN 1.5探头和电池)
    整机尺寸 150*55.5*23mm 137*66*23mm
    工作环境温度 0~40℃ 0℃至+50℃
    数据存储 500个测量值 最高1000读数
    工作相对湿度 20~90%RH