产品概述
沈阳天星ED400电涡流测厚仪是一款严格按照国家标准GB/T4957-2003生产的涂层测厚仪，是在ED300型号基础上进行升级优化的新型电涡流测厚仪。该仪器采用温度补偿技术，有效减少了温度变化对测量的影响，测量范围为0~500微米，分辨率达0.1微米，适用于对小膜厚范围进行涂层厚度的无损测量。它主要用于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。
产品特色
1. 量程宽：测量范围达到0～500 μm。
2. 精度高：测量精度达到2%。
3. 分辨率高：分辨率达到0.1 μm。
4. 校正简便：仅需校正“0”和“50 μm”两点，即可在全量程范围内保证设计精度。
5. 基体导电率影响小：基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量误差不大于1～2 μm。
6. 可靠性提高：采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化。
7. 稳定性提高：采用专业的温度补偿技术，测量值受环境温度变化影响小，校正一次可在生产现场长期使用。
8. 探头芯寿命长：采用高强度磁芯材料，优化探头设计，探头芯寿命大大延长。
工作原理
该仪器采用电涡流原理进行测量。当探头靠近被测金属基体上的绝缘覆盖层时，探头线圈产生的高频电磁场会在金属基体中感应出涡流，涡流的效应会反作用于探头线圈，改变其阻抗。通过测量这种阻抗的变化，可以计算出覆盖层的厚度。
应用领域
主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度、其他铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度、其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度、塑料薄膜及纸张厚度。适用于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查，可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
符合标准
GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》
操作步骤
1. 开机准备。
2. 进行两点校准：首先在无覆盖层的基体上校准“0”点，然后在已知厚度为50μm的标准箔片上进行校准。
3. 将探头垂直、平稳地放置于待测样品表面进行测量。
4. 读取并记录液晶显示屏上显示的厚度值。
注意事项
• 测量前必须进行两点校准以确保测量精度。
• 探头应垂直、平稳地接触被测表面。
• 仪器工作环境温度为5~45℃，请在适宜温度下使用。
• 避免探头受到剧烈撞击或摔落，以保护探头芯。
• 确保被测基体为非磁性金属，覆盖层为绝缘性材料。
• 对于不同导电率的基体材料（如纯铝、铝合金、紫铜、黄铜），仪器已优化设计，但仍需注意可能的微小误差。
• 可选附件包括备用探头、基体和校正箔片，可根据需要配备。
