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    GB/T 33049-2016
    偏光片用光学薄膜 涂层附着力的测定方法

    GB/T 33049-2016《偏光片用光学薄膜 涂层附着力的测定方法》规定了偏光片用光学薄膜涂层附着力的测定方法,适用于相关光学薄膜产品的质量检验。采用划格法、胶带剥离法等方式进行测试,通过观察涂层脱落情况评判附着力等级。检测需用到划格器、标准胶带、放大镜或显微镜,试验过程中需控制划格深度、胶带粘贴压力等参数,确保测试结果的准确性和可比性。

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    实行状态 现行
    中国标准分类号(CCS) G15 国际标准分类号(ICS) 71.080.99
    发布日期 2016-10-13 00:00:00 实施日期 2017-05-01 00:00:00