双镜头设计可任意切换观察方向，配备45万像素与70°视场角，深入管采用防腐耐磨材质，支持拍照录像并内置8GB存储，续航达3-4小时。
测量范围0-40000W/m²，光谱响应1000-1700nm，可自动计算并显示红外阻隔率，感光孔径10mm，适用于多种红外光源和隔热材料的性能测试。
采用三合一光路设计，一次对孔可同时测量三种波长透过率。配备1mm测试孔径和自动校准功能，支持850nm/940nm红外及550nm可见光测量，精度达±2%。
具备260*200热成像分辨率和70mK热灵敏度，可快速定位电路板异常温升点，支持-10~120℃测温范围，配备可调镜头和多向调节支架，便于精确观测电路板热分布状态。
配备红外传感器和热敏探头双测量模式，响应时间仅1秒，光学系数3:1，支持-40~150℃宽范围测温，满足不同场景的精准温度检测需求。
采用氧化钒非制冷红外焦平面探测器，测温分辨率达0.1℃，具备56°×42.2°视场角和免调焦设计，支持中心点测温和冷热点自动追踪功能。
最小测试孔径0.5mm，三光源共用一个测试孔，一次对孔可获取550nm、850nm、940nm三种透过率数据，实时动态自校准功能，测试精度±2%。
采用全大理石结构确保稳定性，测量精度达(3+L/200)μm，配备高分辨率CCD和可调LED光源，避免工件热变形。
采用全大理石结构确保稳定性，测量精度达(3+L/200)μm，配备可调LED光源避免工件热变形，支持Z轴影像测高或接触式测量。
采用全大理石结构确保稳定性和刚性，测量精度达(3+L/200)μm，配备可调LED环形光源避免工件热变形，支持手动操作和多种配件选配。
采用全大理石结构确保稳定性，测量精度达(3+L/200)μm，配备可调LED光源避免工件热变形，支持Z轴影像测高或探针测量。
采用无限远光学系统，配备4X-100X平场消色差物镜和WF10X-16X大视野目镜，提供NA1.25聚光镜和0.001mm微调精度，支持相衬观察功能，操作舒适便捷。
采用红外辐射加热和微晶玻璃隔离，控温精度±1℃，转速恒定最低50rpm，定时长达9999分钟，具备台面与介质温度切换功能，安全可靠使用寿命长。
采用长工作距离平场消色差物镜和插板式相衬聚光镜，工作距离30mm，支持双层机械移动载物台，适配多种培养皿，便于动态显微观察和操作舒适。
三合一光路一次测量三种波长透过率，测试孔径1mm适应小尺寸材料，平行光设计确保厚材料测量稳定，精度达±2%且分辨率0.1%。
