采用漫透射光路设计，光密度测量范围0.00-6.00 OD，透光率精度±2%，可同时测量透光率、绝对光密度、相对光密度和网点面积率。
三合一光路设计可同时测量蓝光430nm、紫光395nm和可见光透过率，测试孔径Φ1mm适应大厚度材料，具备实时动态自校准功能确保数据精准。
采用光学编码器精确测量撕裂角度，具备双档位测量范围50~16000mN，支持4层试样同时测试，适用于片状复合材料强度分析。
采用光电检测及微机伺服系统，灵敏度高，最小读数±0.005°，重复性≤0.007°，可测透过率≥10%的低旋光度样品，无读数人差。
采用双光束反馈光学系统实时补偿光源波动，光谱反射率重复性标准偏差0.1%以内，器间差ΔE*ab高达0.08，无需UV校正即可准确测量荧光材料。
采用光学荧光法无需参比溶液，内置温度传感器实时校准数据，双量程设计覆盖0~20mg/L与0~200%饱和度，10米长线缆支持深水或远距离安装，聚甲醛与不锈钢复合结构增强环境适应性。
可测定蓝光漫反射因数（R457）和荧光增白度，采用d/o照明观测几何条件，测试孔直径30mm，能分析材料是否含荧光增白剂并测量多种光学系数。
采用漫透射测量原理，光密度测量范围达6.000 OD，精度±0.02 OD，配备固定座和支架，支持两种测量方式，适用于半透明材料测试。
该设备取样尺寸300*320mm，切口平行度≤0.1mm，可精确检测纸张抗张力、伸长率及裂断长等力学性能，符合多项国家标准要求。
采用爱利门道夫法原理，测量范围10~500mN，分辨力5mN，撕裂力臂104mm，夹纸面尺寸25*15mm，适用于纸张撕裂强度精确测定。
