光导色差仪

采用双光路传感阵列和紫外增强硅光电二极管，分辨率0.0001，透射率测量范围0-200%，支持APHA/PtCo、Gardner和Saybolt色度标尺，确保高重复性和准确性。

采用45/0光学结构和256像元双阵列CMOS感应器，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，支持多种测量口径和荧光样品，确保颜色数据准确稳定。

采用1000线精密闪耀光栅和硅光电池阵列探测器，光学分辨率小于10nm，可同时测量样品SCI和SCE光谱数据，配备摄像头定位和稳定片平台确保测量精准。

采用双导杆结构提高稳定性，最大负荷1000N，支持无级调速和四种试验模式，具备力保持和拉压断即停功能。

采用90mm涂膜宽度和25μm分度值设计，具有可拆卸导向板确保直接拉伸，通过10个等分间隙评估下垂指数，符合ASTM标准要求。

90mm总薄膜宽度等分为10个间隙，深度逐级增加25μm，间距1.5mm，可拆卸导向板设计便于在不同厚度测试面板上操作。

采用双导杆结构确保稳定性，最大负荷500N，支持四种试验模式和力保持功能，具备拉压断即停和限位保护装置。

采用双导杆结构确保稳定性，量程10KN精度0.5级，支持力保持和拉断即停功能，具备四种试验模式和可调速度范围0-500mm/min。

采用45/0环形照明几何结构，配备Φ8mm和Φ4mm双测量口径，色度值重复性ΔE*ab 0.03以内，支持荧光样品测量及多种色差公式计算。

采用无限远光学系统与模块化功能设计，可实现偏光与暗场观察；粗微动同轴调焦系统微动格值2μm，导柱升降装置适应不同厚度工件检测需求。

采用双管式导向结构确保冲击精度，最大冲击能量可达320J，冲击高度误差控制在±2mm内，配备自动提锤功能防止二次冲击，操作稳定可靠。

采用直线导轨确保取样平稳快速，进口钨片切割无毛边且耐用，支持18mm厚度取样，可切取25×100mm和25×80mm两种规格试样。

采用双丝杠双导柱机械结构，力值范围5~5000N，精度±1%，具备强度、环压和堆码多种试验模式，支持自动数据处理和故障诊断。

导轨式操作方便，定位销确保精度，压紧装置减少误差，取样厚度小于1.0mm，平行度≤0.1mm，可切取多种标准试样。

采用双导杆结构确保稳定性，最大测量值5000N，行程220mm，支持无极调速和多种试验模式，具备拉断即停和力保持功能。