采用45/0环形均匀照明结构，测量时间仅需1.5秒，色度值重复性ΔE*ab 0.04以内，支持多边形容差标样判定，可自定义色域范围，满足特殊检测需求。
具备0.2°~2.0°连续可调观测角和多种入射角设置，测量范围0~1999 mcd•lx-1，采用硅二极管探测器和标准A光源，确保测量精度与国际标准一致。
观测角0.2°~2.0°连续可调，入射角-40°~+40°可调，采用硅二极管探测器和锂电池供电，支持连续工作30小时以上，适合室内外测量。
采用2850mm导砂管和850μm过滤网控制落砂，校正漏斗可调整砂量均匀性，样品架可自由调节高度和水平方向，确保测试精度和可靠性。
该仪器观测角0.2°~2.0°连续可调，入射角覆盖±0°至±20°，测量范围达0~3000 mcd•lx-1，采用硅二极管探测器和标准A光源，确保测量准确性。
采用45/0环形照明结构，配备Φ2/4/8mm定制口径，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，支持多种色差公式和颜色空间测量。
采用45/0几何光学结构，配备256像元双阵列CMOS探测器，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，支持多种色差公式和颜色指数测量。
该设备冲击锤头半径为6.4mm，总质量190±2g，结构合理、操作简单、适用性广、测量精度高且安全可靠，符合GB/T24725-2009标准要求。
采用45/0环形照明几何结构，配备Φ8mm和Φ4mm双测量口径，色度值重复性ΔE*ab 0.03以内，支持荧光样品测量及多种色差公式计算。
采用45/0几何光学结构和凹面光栅分光，测量口径可定制至Φ2/4/8mm，反射率测定范围0~200%，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，适用于多种样品准确颜色传递和配色。
采用45/0几何光学结构，配备Φ20mm测量口径和凹面光栅分光，可准确测量反射率及色度数据，具有高稳定性和重复性，适合条纹或颗粒状样品。
采用凹面光栅分光方式，配备256像元双阵列CMOS探测器，测量时间约1.5秒，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，支持多种色差公式和颜色指数测量。
采用45/0光学结构和256像元双阵列CMOS感应器，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，支持多种测量口径和荧光样品，确保颜色数据准确稳定。
