仪器商品分类

    薄膜分光光度计

    薄膜分光光度计利用光通过薄膜样品时发生吸收或反射,测量特定波长透射率。用于检测薄膜厚度、成分和光学性能,适用于塑料包装、涂层质量控制等领域。
    仪器选型
    选择时考虑测量波长范围覆盖样品特征波段,样品尺寸兼容仪器夹具,精度匹配检测标准要求,操作界面直观易用,维护成本与设备稳定性满足日常使用频率。

    术语

    标准

    检测仪器

    采用挤压工艺和镀铬表面,湿膜厚度可低至1.5μm,凹槽设计宽大提升涂布量,解决了传统钢丝松脱、清洗困难问题,实现稳定超薄涂布。

    ¥ 2500.00

    湿膜厚度可低至1.5μm,实现超薄涂布;凹槽底部较宽,涂布量更大;采用挤压工艺,避免钢丝松脱和断线问题,易于清洗。

    ¥ 2500.00

    宽度为5cm,光程10mm,外形尺寸12.5×52.5×45mm,适用于分光光度计配套使用,确保光学检测精度。

    ¥ 250.00

    宽度2cm,光程10mm,外形尺寸12.5×22.5×45mm,专为分光光度计设计的配套比色皿,确保光学检测精度。

    ¥ 170.00

    压针行程0-1.25mm,测量误差±1HAM,适用于厚度1.5mm以上薄橡胶样品,灵敏度高,需配合定负荷测定架使用确保准确度。

    ¥ 5250.00

    宽度3cm,光程10mm,外形尺寸12.5×32.5×45mm,作为分光光度计专用配件,确保光路稳定和测量准确性。

    ¥ 200.00

    采用回波-回波技术实现0.15mm超薄件测量,分辨率达0.001mm,可穿透0.5mm涂层测量基材厚度,支持声速校准和差值模式设置。

    ¥ 9800.00

    采用挤压式生产工艺,涂膜厚度薄至4.6μm,精度达0.1微米,有效涂布宽度30cm,可配合自动涂膜机使用,具有不断丝优势。

    ¥ 699.00

    采用冷挤压加工技术形成波状曲线表面,无钢丝松脱风险,湿膜厚度50μm,可实现超薄膜涂布,表面光滑易清洗。

    ¥ 1200.00

    湿膜厚度可低至1.5μm,支持超薄涂布;采用挤压工艺和镀铬表面,减少堵塞和断线问题,凹槽设计优化涂布量,适应多种基材需求。

    ¥ 2500.00

    采用挤压式生产工艺,湿膜厚度0μm,涂膜精度达1μm,特殊凹槽结构确保涂布均匀且易于清洗。

    ¥ 288.00

    采用油浴加热介质,温度范围室温至200℃,控温精度±0.5℃,配备试样夹持网架,保证受温稳定,适用于各种薄膜热收缩率测试。

    ¥ 8900.00

    挤压式工艺确保涂布均匀,湿膜厚度仅1.5μm,实现超薄涂膜;不锈钢材质耐用且易于清洗,适合精密涂布应用。

    ¥ 520.00

    采用冷挤压加工技术形成波状曲线,无钢丝松脱风险,可涂布2μm超薄膜,表面流畅易清洗,湿膜厚度100μm,直径16mm满足精密涂布需求。

    ¥ 2500.00

    采用冷挤压技术加工表面波状曲线,无钢丝松脱破断风险,湿膜厚度80µm,直径16mm,便于清洗且可进行超薄膜涂布。

    ¥ 2500.00

    应用知识

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