采用D/8测量结构，可同时进行SCI和SCE测试，重复性小于0.03ΔE*ab，配备大尺寸彩色触控屏和摄像定位功能，适用于平面及曲面样品测量。
采用分光测量方案，一次完成颜色、色差、全反光率测试。d/8测量结构支持SCI和SCE，重复性<0.02ΔE*ab，适用于曲面样品测量。
采用D/8测量结构，可同时进行SCI和SCE测试，测量重复性小于0.03ΔE*ab，立式设计便于快速定位测量区域，适用于平面和曲面样品。
采用D/8照明结构，SCI/SCE同步测量，提供28种标准光源和40种色度指标。摄像头取景避免偏差，存储20000条数据，适用于多种材料表面颜色检测。
采用D/8照明结构，SCI/SCE同步测量，测量口径Φ6mm，重复性ΔE*ab 0.03以内，摄像头取景避免偏差，存储20000条数据，支持多种色度指标。
配备双口径切换功能，支持Φ8mm/Φ4mm测量；采用摄像头定位系统，确保测量精准；重复精度达△E*ab≤0.03，适用于多种样品快速分析。
采用Φ4mm测量口径和d/8结构，重复精度△E*ab≤0.07，支持多种颜色空间和色差公式，确保颜色测量的一致性和准确性。
采用45/0光学结构和256像元双阵列CMOS感应器，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，支持多种测量口径和荧光样品，确保颜色数据准确稳定。
采用45/0几何光学结构，配备256像元双阵列CMOS探测器，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，支持多种色差公式和颜色指数测量。
采用45/0环形照明结构，配备256像元双阵列CMOS探测器，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，支持多种测量口径和颜色空间，满足精确配色需求。
采用45/0几何光学结构，重复精度ΔE*ab 0.04，台间差ΔE*ab 0.2，配备超大积分球和3.5英寸触摸屏，支持光谱反射率曲线显示和配色功能。
采用D/0几何光学结构和全光谱LED光源，覆盖360-780nm波长，重复性色度值0.015以内，支持多元光源模拟和丰富色度指标，确保测量稳定性和准确性。
采用d/8测量结构和全光谱LED光源，重复精度△E*ab≤0.07，支持多种颜色空间和色差公式，3.5寸触屏操作便捷，电池可连续测量10000次。
