测量范围0-40000W/m²，光谱响应1000-1700nm，可自动计算并显示红外阻隔率，感光孔径10mm，适用于多种红外光源和隔热材料的性能测试。
采用氧化钒非制冷红外焦平面探测器，测温分辨率达0.1℃，具备56°×42.2°视场角和免调焦设计，支持中心点测温和冷热点自动追踪功能。
采用全大理石结构确保稳定性，测量精度达(3+L/200)μm，配备高分辨率CCD和可调LED光源，避免工件热变形。
配备红外传感器和热敏探头双测量模式，响应时间仅1秒，光学系数3:1，支持-40~150℃宽范围测温，满足不同场景的精准温度检测需求。
超小型便携设计可放入口袋，配备保护胶套防跌落；使用一节5号电池可连续测量数万组数据，即开即测无需等待；采用特殊微电脑控制消除外界光干扰，确保0.1%分辨率的高精度测量。
采用红外光源浊度法减少颜色干扰，自动量程转换确保准确性，测量范围0.00-250EBC，精度±3%±0.20EBC，内置GLP功能存储校准数据。
采用全大理石结构确保稳定性，测量精度达(3+L/200)μm，配备可调LED光源避免工件热变形，支持Z轴影像测高或接触式测量。
可同时测试红外线、紫外线阻隔率及可见光透过率，支持太阳能总阻隔率评估。采用点阵彩屏直观显示，机身轻巧便携，具备实时动态校准功能，测量精度优于±2%。
采用LED红外光源与散射-透射光测量原理，量程0.000-1000NTU，支持多点校准和2000组数据存储，具有自动断电和USB供电功能，符合ISO7027标准。
采用全大理石结构确保稳定性和刚性，测量精度达(3+L/200)μm，配备可调LED环形光源避免工件热变形，支持手动操作和多种配件选配。
具备260*200热成像分辨率和70mK热灵敏度，可快速定位电路板异常温升点，支持-10~120℃测温范围，配备可调镜头和多向调节支架，便于精确观测电路板热分布状态。
采用红外传感器和微控制器技术，响应时间≤20秒，精度≤±3%F.S，支持数据存储100000组，配有2.4寸高清彩屏，泵吸式设计且流速可调。
支持紫外可见红外三光透光率测量，精度达±2%，具备单次连续测量模式，厚度测量能力达10mm，便携设计仅重120g方便现场使用。
采用全大理石结构确保稳定性，测量精度达(3+L/200)μm，配备可调LED光源避免工件热变形，支持Z轴影像测高或探针测量。
采用全大理石结构确保稳定性，测量精度达(3+L/200)μm，配备可调LED光源避免工件热变形，支持三轴摩擦精密传动和Z轴影像测高功能。
