仪器商品分类

    薄膜膜厚仪

    薄膜膜厚仪通过光学干涉或超声波反射原理测量涂层厚度。光线或声波在薄膜表面和基底产生干涉或反射,根据波长或时差计算膜层厚度。用于检测油漆、电镀、印刷等行业的涂层质量控制。
    仪器选型
    选择时考虑测量范围覆盖样品厚度,基材材质匹配探头类型,测量精度满足工艺要求。接触式探头适合金属基材,非接触式适合脆弱表面。环境适应性包括温度稳定性和抗振动能力,操作界面需简洁易读。

    术语

    标准

    检测仪器

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    采用高速ADC数据采集,分辨率达1μm,可同时测量多层涂层或涂层加基材厚度,具有增益自动切换和预估厚度设置功能,测量范围13~1000μm(环氧树脂涂层)。

    ¥ 6560.00

    采用磁感应和电涡流双原理,自动识别磁性或非磁性基底,测量范围0~1500μm,分辨率达0.1μm,支持每分钟180多个读数和高防护等级。

    ¥ 12280.00

    采用连体探头设计,测量范围0~1500微米,误差±1%,支持磁感应原理,具备IP65防护等级和250读数存储,适用于铁质金属底材非磁性涂层环境。

    ¥ 5060.00

    采用磁性涡流一体设计,自动识别底材类型,测量范围0~1500μm,精度±2%,探头耐磨50万次以上,适用于各种测量环境。

    ¥ 860.00

    采用磁性涡流一体探头,自动识别基材,测量范围0-3000μm,精度±2%,耐磨探头寿命超50万次,支持单点和多点校准,适应各种环境。

    ¥ 950.00

    采用高速ADC数据采集实现1μm分辨率,具备多层涂层同时测量功能,测量范围覆盖13~1000μm(环氧树脂)和300~14800μm(45#钢),支持波形显示和自动增益切换。

    ¥ 6560.00

    采用磁性涡流一体设计,自动识别底材类型,测量范围0-1500μm,精度±2%,探头耐磨50万次以上,测试速度0.3秒/次,适用于各种恶劣环境。

    ¥ 860.00

    内置FN3探头自动识别基材,测量范围0~1500μm,分辨率0.1μm,防护等级IP65,每分钟可测180多个读数,支持250000个数据存储。

    ¥ 11060.00

    采用超声技术实现无损测量,测量范围50~3800μm,精度±3%,具备防风雨设计,支持USB数据传输和多种单位切换,适用于多种基材条件。

    ¥ 18860.00

    内置双测量功能探头自动识别底材,测量范围0~1500μm,分辨率0.1μm,耐磨探头适用粗糙表面,每分钟可测60多个读数。

    ¥ 7840.00

    采用磁感应原理自动识别底材,测量范围0-5000μm,精度±3%,探头耐磨50万次以上,适用于各种恶劣环境。

    ¥ 1600.00

    采用磁感应和电涡流双原理,自动识别基底类型,测量范围0~6000μm,精度±3%,配备30mm耐磨探头,每分钟可获取60多个读数,防护等级IP65。

    ¥ 9440.00

    采用进口金属小测头,测量范围0~1250微米,最小基体0.3mm,具有连续测试、数据存储和多种校准模式,操作便捷且精度高。

    ¥ 1800.00

    测量范围0~6000μm,误差±3%,自动识别底材类型,配备耐磨探头和STDP1校正标准板,支持蓝牙数据传输和实时图形显示,防护等级IP65。

    ¥ 12650.00

    应用知识

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