设备可进行连续回转跌落测试,跌落高度达1000mm,试验速度5-20次/min,适用于小型电子产品的可靠性验证。
采用超小探头设计,宽度仅7.2mm,适用于狭小空间测量;高速采集每秒2048次采样,确保能量计算准确;光谱响应340nm-420nm,功率测量范围0~20000 mW/cm²。
采用同轴圆筒结构,样品量仅需7-13ml,测量精度±2%,配备RS232接口可连接打印机和电脑,适合少量珍贵样品测试。
采用同轴圆筒结构配合少量样品适配器,样品量仅需7.8-11.5ml,测量精度±2%,配备双RS232接口可直接连接打印机和电脑进行数据输出。
采用4mm小口径设计,精度达0.1,1.5秒快速测量,支持自动校准和APP数据存储,配备陶瓷白板亮度值大于90。
冲击能量3N,冲击装置质量75g,适用于测量小的或轻薄的试件及表面硬化层,可测量最小厚度1mm和最小硬化层深度0.2mm。
采用同轴圆筒结构配合少量样品适配器,仅需7.8-11.5ml样品量,测量精度±2%,配备双RS232接口可直接连接打印机和电脑。
测量孔径仅1mm,可精准测量细小或异型表面。重复性△E*ab≤0.03,精度高。采用分体式设计,探头可灵活对位或倒置测量,操作体验佳。