仪器商品分类

    千分测厚仪

    千分测厚仪通过机械接触方式测量材料厚度。探针接触样品表面,通过螺旋测微结构将位移转换为厚度读数。用于检测薄膜、涂层、金属薄板等材料的厚度,确保产品符合规格要求。
    仪器选型
    选择千分测厚仪需考虑测量范围覆盖样品厚度,分辨力满足精度需求,测砧类型适配材料形状。操作环境决定是否需要防腐蚀设计,定期校准保证测量准确性。手持式适合现场检测,台架式适合实验室固定测量。

    标准

    检测仪器

    支持铁基和非铁基材料测量,精度达±1~3%或±2.5µm,提供分体式探头增强机动性,自动识别基体材质和记忆校准值。

    ¥ 2810.00

    具备铁基和非铁基两用功能,分辨率达0.1um,测试范围0~1250um,支持单次和连续测量,自动识别基体材质,操作稳定且便携。

    ¥ 1750.00

    采用砝码负荷恒定切割力自动切割,切割完成后自动停止。千分尺装置可调整试样切割厚度,实现精密切割。主轴转速50~800rpm可调,配备冷却系统避免试样烧伤,切割后表面光亮平整。

    具备0.001mm高精度和1.0μm分辨率,采用低脚压力设计和数字线性编码器,支持多种国际标准,适用于各种片状基材的厚度测量。

    ¥ 128245.00

    采用90°测量角度和磁感应原理,可精确测量边缘涂层、窄管涂层及小型表面区域,确保测量准确性和稳定性。

    ¥ 580.00

    采用磁感应和电涡流双原理,测量范围0-1250μm,支持分体式探头灵活更换,具备自动识别基体材质功能,最小可测曲面半径1.5mm。

    ¥ 2145.00

    采用涡流感应原理和探针式测头设计,特别适合小尺寸和异型材料测量;测量范围0-1500μm,分辨率达0.1μm,重复性误差≤±(0.8%读数+0.1μm),支持多点校准和数据统计功能。

    ¥ 3340.00

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    专为微小工件设计,测量范围0-200μm,分辨率0.1μm,支持分体式探头和多种数据输出方式,具备自动校准和基体识别功能。

    ¥ 3200.00

    具有发射-回波和回波-回波两种测厚模式,测量范围0.65~600mm,可自动识别探头类型并进行零点校准,支持反测声速功能以提高精度。

    ¥ 3680.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    分体式设计提供多种探头选择,测量范围0~1250µm,精度±1~3%n,支持单次和连续测量模式,具备自动识别基体材质和多种数据传输接口。

    ¥ 1750.00

    采用分体式探头设计,测量范围0~1250微米,误差±3%,支持铁基和非铁基自动识别,具有统计功能和连续测量模式,配备耐磨硬质金属探针确保稳定取样。

    ¥ 2690.00

    具备发射-回波和回波-回波两种测厚模式,可穿透涂层测量基材厚度;测量范围0.65~600mm,精度±0.05mm;支持探头自动识别和零点校准。

    ¥ 2680.00

    采用磁感应和电涡流自动转换技术,测量范围0~1500μm,精度±2%,可测1-5μm超薄涂层,探头耐磨50万次以上,测量速度达0.3秒/次,自动识别底材。

    ¥ 1000.00

    应用知识