采用1000线精密闪耀光栅和硅光电池阵列，光学分辨率小于10nm，可同时测量SCI/SCE光谱，台间差ΔE*ab<0.15，配备摄像头定位和稳定片平台。
采用1000线精密闪耀光栅和硅光电池阵列，光学分辨率小于10nm，可同时测量SCI/SCE光谱，重复性ΔE*ab 0.03以内，支持双口径切换和摄像头定位。
采用凹面光栅分光方式，配备256像元双阵列CMOS探测器，测量时间约1.5秒，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，支持多种色差公式和颜色指数测量。
采用45/0几何光学结构，配备Φ20mm测量口径和凹面光栅分光，可准确测量反射率及色度数据，具有高稳定性和重复性，适合条纹或颗粒状样品。
采用45/0几何光学结构和凹面光栅分光，测量口径可定制至Φ2/4/8mm，反射率测定范围0~200%，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，适用于多种样品准确颜色传递和配色。
采用凹面光栅分光方式，配备256像元双阵列CMOS探测器，测量时间约1.5秒，色度值重复性ΔE*ab 0.03以内，支持荧光样品测量和多行业应用。
采用1000线精密闪耀光栅和硅光电池阵列探测器，光学分辨率小于10nm，可同时测量样品SCI和SCE光谱数据，配备摄像头定位和稳定片平台确保测量精准。
采用大面积阵列传感器及光栅分光技术，测量口径8mm，重复性ΔE*ab控制在0.03以内，支持SCI/SCE双测量模式，具备摄像头定位功能。
采用单光束光栅系统，波长范围340~1000nm，光谱带宽4nm，密封式光栅单色器设计提升稳定性和测光精度，自动调0%和100%功能简化操作。
采用大面积阵列传感器及光栅分光技术，测量波长范围400-700nm，重复性ΔE*ab控制在0.03以内，支持SCI/SCE双测量模式，定位精准且操作便捷。
采用45/0环形照明结构，配备256像元双阵列CMOS探测器，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，支持多种测量口径和颜色空间，满足精确配色需求。
采用单光束光栅系统，波长范围340~1000nm，光谱带宽4nm，具备自动调零和调100%功能，密封式光栅单色器防霉设计，提升稳定性和测光精度。
采用凹面全息光栅分光，光谱纯净精准，通带较窄，灵敏度较高；五元素可选任意组合同时直读测量，响应时间小于8秒，稳定性在15秒内相对变化量不超过2%。
采用比例双光束监视光路和闪耀全全息光栅，波长准确度±0.5nm，杂散光≤0.15%T，支持自动调零和八样品池联动，操作便捷可靠。
