仪器商品分类

    光学薄膜测厚仪

    光学薄膜测厚仪通过光干涉原理测量薄膜厚度。光束在薄膜上下表面反射产生干涉条纹,分析条纹间距和强度可计算膜层厚度。用于检测涂料、镀膜、纸张等材料的涂层厚度,确保生产质量稳定。
    仪器选型
    选择光学薄膜测厚仪需考虑测量范围覆盖样品厚度,精度满足工艺要求。确认仪器适配基材材质和表面状态,操作界面简便易用。评估设备稳定性和环境适应性,参考实际应用案例和售后服务支持。

    术语

    标准

    检测仪器

    符合ISO2808-1974标准,量程0~150μm,精度不大于5μm,可测定湿膜厚度并估计干膜厚度,适用于实验室和生产控制。

    ¥ 330.00

    符合ISO2808标准,量程0~500μm,精度不大于5μm,可测定湿膜厚度并估计干膜厚度,适用于实验室和生产现场。

    ¥ 330.00

    采用不锈钢材质,厚度仅1.5mm,量程20~200μm,分刻度20μm,卡片式设计便于现场快速测量湿膜涂层厚度。

    ¥ 280.00

    采用三道轮结构设计,中心轮接触膜层直接读数,量程0-500μm分度25μm,可在平面和曲面进行无损厚度测量。

    ¥ 699.00

    采用滚轮式设计,量程范围0~500μm,不锈钢材质确保耐用性,适用于现场快速测量湿膜厚度,符合多项执行标准。

    ¥ 450.00

    提供额外一年保修期限,适用于涂层测厚仪产品,需在购买设备时同步选购,不单独售卖。

    ¥ 300.00

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    不锈钢材质坚固耐用,量程范围50-950微米,分刻度50和100微米,外形紧凑仅65*43*1.5mm,适合现场快速测量湿膜厚度。

    ¥ 280.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    ¥ 520.00

    采用机械测量法,测量范围0~1mm,精度≤0.005mm,分度值0.001mm,测头直径Φ5mm,适用于平面薄膜和薄片,提供两种测头压力选择。

    ¥ 1200.00

    采用漫透射光路设计,光密度测量范围0.00-6.00 OD,透光率精度±2%,可同时测量透光率、绝对光密度、相对光密度和网点面积率。

    ¥ 3718.00

    采用三道轮结构设计,中心轮接触膜层直接读取厚度,量程0-100μm,分度值5μm,可在平面和曲面进行无损测量。

    ¥ 699.00

    采用精密不锈钢材质制造,具备50~950μm量程范围,10个阶齿设计可精确测量湿膜厚度,确保涂装质量并避免材料浪费。

    ¥ 220.00

    采用不锈钢材质,量程范围10~100μm,分刻度10μm,外形尺寸65*36*1.5mm,适用于色漆、清漆等涂料涂层厚度测量。

    ¥ 280.00

    测量范围0-20mm,精度0.001mm,接触压力20±5kPa,适用于纸张、纸板及片状材料厚度检测,符合多项国际标准。

    ¥ 2030.00

    应用知识

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