仪器商品分类

    近场扫描光学显微镜

    近场扫描光学显微镜利用纳米级探针在样品表面扫描,探测近场光信号,突破衍射极限实现超分辨率成像。用于观察材料表面纳米结构、化学成分分布,适用于半导体、生物样品检测。
    仪器选型
    选择时考虑分辨率需达50纳米以下,配备多种探测模式如散射式、光子扫描隧道式。根据样品特性选择探针材质,硬质样品用金属镀层探针,软质样品用硅探针。注意系统振动隔离能力和扫描速度匹配检测需求。

    标准

    检测仪器

    采用无限远光学系统与模块化设计,可升级偏光与暗场观察功能;粗微动同轴调焦系统微动格值2μm,圆柱滚子导向传动确保升降平稳,适用于不同厚度工件检测。

    采用无限远光学系统及模块化功能设计,配置平场消色差荧光物镜,微动格值2μm,支持多种荧光滤光片组激发波段,满足科研观察需求。

    采用无限远光学系统,配备4X-100X平场消色差物镜和WF10X-16X大视野目镜,提供NA1.25聚光镜和0.001mm微调精度,支持相衬观察功能,操作舒适便捷。

    采用无限远光学系统及模块化设计,配置平场消色差荧光物镜,微动格值2μm,支持多波段荧光滤光片组,操作舒适。

    采用无限远光学系统,配置平场消色差荧光物镜,微动格值2μm,粗微动同轴调焦,支持多种荧光滤光片组,适用于低照度显微图像拍摄。

    采用无限远光学系统,配置4X-100X平场消色差物镜和WF10X-16X大视野目镜,具有3W LED冷光源照明和216x150mm双层活动平台,支持实验拍照和几何测量功能。

    采用无限远光学系统及模块化设计,配置无应力长工作距离平场物镜,微动格值2μm,旋转载物台带360°刻度,支持偏光观察装置灵活移入移出光路。

    采用无限远光学系统与模块化设计,可升级偏光与暗场功能;配置大移动范围载物台(204mm×204mm)和微动格值0.7μm的调焦机构,紧凑稳定且操作舒适。

    采用无限远光学系统,配备长工作距离聚光镜和工作距离55mm,旋转摆入摆出式聚光系统可对高培养皿进行无沾染观察,紧凑高刚性主体满足防振要求。

    采用无限远光学系统,配备4X-100X平场消色差物镜和WF10X大视野目镜,提供2μm微动格值的同轴调焦系统,双层机械载物台移动范围达75×50mm。

    配置无限远平场消色差物镜和大视野目镜,提供优质光学性能;采用3W LED冷光源照明和同轴粗微调焦系统,微调格值达0.001mm,操作舒适精准。

    采用无限远光学系统,配置长工作距离物镜如10X0.25工作距离4.3mm,旋转摆入摆出式聚光系统可对高培养皿进行无沾染观察,模块化荧光系统便于调整。

    配置平场消色差物镜和大视野目镜,四孔内倾式转换器定位精度≤0.006mm,阿贝聚光镜NA1.25,粗微调同轴机构微调格值0.002mm,3W LED冷光源照明。

    采用无限远光学系统,配置无应力长工作距离平场物镜,微动格值2μm,旋转载物台360°可调,支持偏光观察与显微摄影。

    配备UIS无限远光学系统,支持相衬观察和暗视场功能,放大倍数40X-1600X,采用6V/20W卤素灯柯勒照明,可扩展荧光和垂直照明装置。

    ¥ 20920.00