采用机电分离结构设计，维护保养方便，具备自动智能进给功能，根据材料硬度自动调节转速，避免堵转，最大切割截面达Φ90mm，切割后试样表面平整无烧伤。
采用双阵列CMOS图像感应器，光谱响应范围宽，反射色度值重复性ΔE*ab ≤0.015，支持多姿态测量和自动温湿度补偿，确保数据稳定可靠。
采用45/0环形照明几何结构，配备Φ8mm和Φ4mm双测量口径，色度值重复性ΔE*ab 0.03以内，支持荧光样品测量及多种色差公式计算。
采用45/0几何光学结构，配备256像元双阵列CMOS探测器，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，支持多种色差公式和颜色指数测量。
采用D/8几何光学结构，4mm测量口径，可同时测量SCI/SCE反射率数据，色度值重复性ΔE*ab 0.04以内，支持摄像头定位和大容量数据存储。
采用45°环形照明结构消除方向依赖性，台间差ΔE*ab≈0.2，色度值重复性ΔE*ab 0.03，内置光泽传感器实现颜色光泽同步测量，测试口朝上设计支持多种形态样品。
采用凹面光栅分光方式，配备256像元双阵列CMOS探测器，测量时间约1.5秒，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，支持多种色差公式和颜色指数测量。
采用45/0环形照明结构，配备256像元双阵列CMOS探测器，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，支持多种测量口径和颜色空间，满足精确配色需求。
支持15°、45°、110°三角度测量颜色数据，采用LED光源寿命长达10年，开口小方便测量曲面，内置锂电池可随时随地测量，色度值重复性dE≤0.05。
采用凹面光栅分光方式，配备256像元双阵列CMOS探测器，测量时间约1.5秒，色度值重复性ΔE*ab 0.03以内，支持荧光样品测量和多行业应用。
采用45/0环形均匀照明结构，测量时间仅需1.5秒，色度值重复性ΔE*ab 0.04以内，支持多边形容差标样判定，可自定义色域范围，满足特殊检测需求。
采用45/0几何光学结构和凹面光栅分光，测量口径可定制至Φ2/4/8mm，反射率测定范围0~200%，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，适用于多种样品准确颜色传递和配色。
采用D/0几何光学结构和全光谱LED光源，覆盖360-780nm波长，重复性色度值0.015以内，支持多元光源模拟和丰富色度指标，确保测量稳定性和准确性。
