该标准是评价非气密封装半导体器件（如车规级芯片等）在潮湿环境下可靠性的关键方法。它通过一种比传统“85/85”稳态温湿试验更为严酷的方式，在施加高压高温高湿条件的同时，常配合施加电压偏置，以加速潮气穿透保护材料或界面，从而快速暴露材料的退化、腐蚀等潜在失效问题。执行此试验的核心设备是强加速稳态湿热试验箱（HAST试验箱），这是一种能精确控制温度（通常超过100℃）、高湿度和内部压力，并提供电连接端子的专用压力容器。该方法主要适用于产品设计验证阶段，可显著缩短可靠性评估周期。
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| 实行状态 | 现行 | ||
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| 中国标准分类号（CCS） | L40 | 国际标准分类号（ICS） | 31.080.01 |
| 发布日期 | 2012-11-05 00:00:00 | 实施日期 | 2013-02-15 00:00:00 |
