仪器商品分类

    半导体高低温试验箱

    半导体高低温试验箱通过制冷和加热系统模拟极端温度环境,用于测试半导体器件在高温或低温下的性能稳定性。其原理是利用压缩机制冷和电热丝加热,精确控制箱内温度,作用于加速老化、筛选缺陷产品,应用于电子制造、汽车和航天领域。
    仪器选型
    选择半导体高低温试验箱需考虑温度范围、控制精度、升降温速率和箱体尺寸。匹配被测样品需求,评估设备稳定性和能耗,参考行业标准如IEC 60068,确保兼容现有测试流程。

    术语

    标准

    检测仪器

    控温范围-40~150℃,温度均匀度±1.0℃,支持高温低温交变循环测试,适用于产品设计改进和鉴定检验环节。

    ¥ 52200.00

    控温范围-60~150℃,温度均匀度±1.0℃,适用于高温低温可靠性试验,支持老化测试,符合多项国家标准。

    ¥ 38300.00

    控温范围-40~150℃,温度均匀度±1.0℃,支持高低温循环变化测试,适用于材料性能检验和老化试验,配备多重安全保护装置。

    ¥ 39400.00

    控温范围-60~150℃,温度均匀度±1.0℃,支持高温低温交变循环测试,适用于产品设计改进及老化试验,符合多项国家标准。

    ¥ 41500.00

    控温范围-60~150℃,温度均匀度±1.0℃,适用于高温低温可靠性试验,支持老化测试,符合多项国家标准。

    ¥ 36400.00

    控温范围-60~150℃,工作室容积1000L,采用不锈钢工作室和耐高温保温材料,支持高低温循环变化测试,符合多项国家标准。

    ¥ 57500.00

    控温范围-40~150℃,工作室容积150L,适用于高温低温可靠性试验,符合多项国家标准,可进行老化测试和恒定温热试验。

    ¥ 33200.00

    控温范围-70~150℃,工作室容积80L,温度均匀度±1.0℃,适用于高温低温循环变化测试,支持老化试验和多种标准要求。

    ¥ 34000.00

    控温范围-20~150℃,温度均匀度±1.0℃,支持高温低温循环变化测试,适用于老化试验和材料性能检验。

    ¥ 43600.00

    控温范围-20~150℃,温度均匀度±1.0℃,支持高温、低温及恒定温热试验,适用于可靠性测试,配备多重保护装置和安全系统。

    ¥ 29400.00

    采用半导体制冷技术,控温精度达±0.5℃,降温时间仅需10分钟从25℃至4℃,具备自动故障检测和超温保护功能,支持多种离心管模块选配。

    ¥ 3250.00

    采用二元复式制冷系统实现-60℃低温控制,配备120组程序容量和7.5英寸真彩触屏,具备PID自动演算和网络远程监控功能,支持600kg/㎡均匀负重。

    采用二元复式制冷系统实现-40℃低温,温度均匀度≤2℃,配备7.5寸彩屏控制器支持120组程序编辑,模块化设计确保设备稳定运行。

    温度控制范围-60~150℃,工作室容积80L,适用于高温低温循环变化测试,符合多项国家标准,配备完善保护装置和进口制冷系统。

    ¥ 30800.00

    温度范围-20~150℃,容积225L,采用不锈钢工作室和高效保温材料,支持高低温循环测试,适用于老化试验和产品性能检验。

    ¥ 33000.00