采用图像法进行颗粒形貌分析，测量范围0.1~3000μm，总放大倍数8000倍，支持自动分割和多种几何参数测量，操作高效。
采用图像法进行颗粒形貌分析，测量范围0.1~3000μm，总放大倍数8000倍，具备自动分割和多种几何参数测量功能。
采用工业级摄像头高速采集颗粒，测量范围0.5-3000μm，最大分辨率0.1μm，支持30多种图像分析功能，可进行粒度分布和形貌分析。
采用图像法分析颗粒形貌与粒度，测试范围1~3500μm，系统放大倍数4000倍，自动分割成功率超93%，可统计长径比和球形度等参数。
采用图像分割技术处理重叠粉尘，保持颗粒原型；测量范围0.1~3000μm，重复性误差≤±1%；支持自定义粒径分级和多种图像处理方法。
采用图像法进行颗粒形貌分析，测量范围0.1~3000μm，总放大倍数8000倍，具备自动分割和多种几何参数测量功能。
测试范围0.5~3000μm，最大放大倍数4000倍，可分析颗粒个数、面积、周长、直径、长径比等分布数据，支持多种格式测试报告输出。
采用图像法进行颗粒形貌分析，测量范围0.1~3000μm，总放大倍数8000倍，具备自动分割和多种几何参数测量功能，操作简便且重复性误差≤±1%。
采用图像分割技术处理重叠粉尘，保持颗粒原貌；测量范围0.1~3000μm，重复性误差≤±1%；支持自动分级和自定义参数分析，操作简便快捷。
测量范围0.1~3000μm，总放大倍数8000倍，具备多种图像处理方法如影像增强和自动分割，可分析圆度、面积等几何参数，并生成分布图，重复性误差≤±1%。
采用CCD摄像系统实现1280×1024分辨率影像分析，支持0~180°接触角和0~400mN/m表面张力测量，具备动态接触角分析和固体表面能估算功能。
采用双阵列CMOS图像感应器，光谱响应范围宽，反射色度值重复性ΔE*ab ≤0.015，支持多姿态测量和自动温湿度补偿，确保数据稳定可靠。
具备15°、45°、110°三角度测量功能，可同时获取颜色数据、闪烁和颗粒等级；内置自动白校准，无需人为干预；采用稳定长寿命LED光源，使用寿命长达10年。
搭载2000万像素索尼IMX183传感器和全局快门技术，支持实时图像拼接和景深融合，USB3.0接口实现15fps高速传输，提供完整的图像采集至报告输出工作流程。
采用100L/min采样流量和六粒径通道检测，配备长寿命激光光源和进口气泵，支持触摸屏操作和USB数据导出功能。
